概述

• 測(cè)試精度高，測(cè)量范圍寬；
• 可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制；
• 上下限設(shè)置，超差報(bào)警；
• 曲面修正，對(duì)柱面、球面測(cè)量結(jié)果自動(dòng)修正；
• 特殊設(shè)計(jì)的壓頭水平方向伸出，可以測(cè)量環(huán)狀、管狀等普通硬度計(jì)無(wú)法測(cè)量的零件，最小測(cè)試內(nèi)徑40mm；
• 位移傳感器分辨率0.1HR;
• 硬度重復(fù)性精度0.5HR;
• 高速步控，測(cè)試速度快（1.75s）；
• 操作方便，中英文界面可切換（可定制其他語(yǔ)言版本）
• 開(kāi)機(jī)即用，無(wú)需安裝砝碼，安裝調(diào)試方便；
• 電動(dòng)加載，閉環(huán)控制；
• 試驗(yàn)力自動(dòng)修正，力值精度高
• 所有洛氏標(biāo)尺，高、中、低三段硬度值自動(dòng)修正
• 設(shè)置密碼保護(hù)設(shè)置參數(shù)；保持更多的樣品和試驗(yàn)信息
• 采用模塊式設(shè)計(jì)，維修方便

高精度控制系統(tǒng)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

• 自動(dòng)高速響應(yīng)閉環(huán)傳感器加載系統(tǒng)，機(jī)頭自動(dòng)移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)高精度快速測(cè)試提升執(zhí)行機(jī)構(gòu)控制精度；
• 原系統(tǒng)屬于毫秒控制系統(tǒng)，無(wú)法實(shí)現(xiàn)步控，“奧龍芯”系統(tǒng)屬于微秒控制系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)高速步控；
• 對(duì)位移傳感器設(shè)置專(zhuān)用的管理裝置QEI，原主板無(wú)專(zhuān)用管理裝置，CPU必須在整個(gè)加載過(guò)程中不斷親自處理位移傳感器信號(hào)；設(shè)置專(zhuān)用管理裝置后，CPU只需在開(kāi)始和結(jié)束兩個(gè)時(shí)間點(diǎn)上讀取數(shù)據(jù)即可，加載過(guò)程CPU可集中資源管理力傳感器和加載電機(jī)，使得控制快速，精度高。
• 導(dǎo)入日本高精度磁柵位移傳感器：原位移傳感器為國(guó)產(chǎn)光柵位移傳感器。存在一致性差，需要與設(shè)備進(jìn)行配套選別的問(wèn)題。 日本高精度位移傳感器一致性高，受環(huán)境影響更小、壽命長(zhǎng)。
• 傳統(tǒng)電加荷洛氏硬度計(jì)力值加載過(guò)程慢，如果加載速度要控制在國(guó)標(biāo)GBT230/T-91要求的8秒內(nèi)，則會(huì)出現(xiàn)如圖中紅色曲線(xiàn)在試驗(yàn)力F總時(shí)不斷的過(guò)沖和卸除來(lái)接近F總的現(xiàn)象。其導(dǎo)致的結(jié)果，一是硬度計(jì)必須放慢試驗(yàn)的速度，造成檢測(cè)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)；二是過(guò)沖現(xiàn)象一定程度上影響了試驗(yàn)精度。
• 本設(shè)備采用先進(jìn)適用的中央處理芯片，高速響應(yīng)整個(gè)硬度試驗(yàn)的過(guò)程，每一次硬度試驗(yàn)的啟動(dòng)到結(jié)束，中央處理芯片會(huì)高速的處理1.8萬(wàn)—3萬(wàn)組數(shù)據(jù)。將傳統(tǒng)電加荷硬度計(jì)需要8秒才可以做到的加載動(dòng)作，縮短到1.75秒(ISO6508-1:99統(tǒng)一了試驗(yàn)力施加時(shí)間為1~8s之內(nèi))。如圖中藍(lán)色曲線(xiàn)所示，實(shí)現(xiàn)加載過(guò)程的速度的要求，加載到總試驗(yàn)力的過(guò)程中力值平滑無(wú)過(guò)沖， 提高了電加荷硬度計(jì)的加載速度和精度。